X⁺ Architecture
Die X⁺ Architecture ist eine innovative Technologie, die von ALPINION entwickelt wurde, um die Leistung und Effizienz der Ultraschallsysteme zu verbessern. Durch die Integration fortschrittlicher Algorithmen und Hardwarekomponenten ermöglicht die X⁺ Architecture eine schnellere Bildverarbeitung, höhere Bildqualität und eine präzisere Diagnose. Diese Technologie trägt dazu bei, die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Ultraschalluntersuchungen zu steigern und den Arbeitsablauf in medizinischen Einrichtungen zu optimieren.

X⁺ Crystal Signature
Mit der Verwendung eines verbesserten Einkristallmaterials werden die Signaleigenschaften wesentlich verbessert. Darüber hinaus minimiert das innovative Backing-Material von ALPINION Signalverluste und verbessert so die Penetration, örtliche Auflösung und Bildqualität.

X⁺ Fit
Die ausgefeilte parallele Beamforming-Technologie X⁺ Fit ermöglicht durch das Senden, Empfangen und Verarbeiten großer Datenmengen in hoher Geschwindigkeit eine Verbesserung von Kontrast und Gleichmäßigkeit für eine hervorragende Auflösung.